便携x射线荧光光谱仪会对被测物造成伤害吗

　　便携x射线荧光光谱仪既可用于材料的组成成分分析，也可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等，很多人都知道，XRF分析仪是通过X射线管产生入射X射线来激发样品的。那么，这种XRF分析仪会对被检测物造成伤害吗?下面赢洲科技小编带您详细了解一下。

　　工作原理：

　　X射线管通过产生入射X射线(一次X射线)，来激发被测样品。受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线(又叫X荧光)，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量或者波长。

　　然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X射线定性分析的基础。

　　此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。用X射线照射试样时，试样可以被激发出各种波长的荧光X射线，需要把混合的X射线按波长(或能量)分开，分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度，以进行定性和定量分析，为此使用的仪器叫X荧光光谱仪。

　　使用该仪器会对被检测物造成伤害吗?

　　正确使用便携x射线荧光光谱仪一般不会对被测物造成伤害的，X射线是可控的，不会轻易脱离控制的。比较推荐的是奥林巴斯X射线荧光光谱仪，是由无损检测元素组成的技术，对产品的损伤几乎为零，所以在操作的时候*不用担心。设备使用起来也很不错，通过可选无线局域网和蓝牙功能，可以连接到云或其他设备，并且还具有嵌入式GPS，能将检测结果与精准的GPS坐标配对，以此来记录并绘制元素的位置。

　　X射线荧光光谱仪能够分析元素周期表中的大部分元素，具体而言，从钠元素(原子序数Z=11)到铀元素(原子序数Z=92)都可以利用这种技术进行检测分析。但是对于原子序数较低的元素(钛元素Ti，Z=22以下)，空气会对检测结果产生较大影响;由低原子序数元素产生的荧光值通常更低，并且样品基体中的其它元素有可能会吸收低原子序数元素的能量辐射。

　　通常情况下，用于提高低原子序数元素的检测灵敏度的方法主要为将仪器的样品室抽成真空环境或者以氦气(He)冲洗样品室。

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